آنالیز میکروسکوپ نیروی اتمی – Atomic Force Microscope

آنالیز میکروسکوپ نیروی اتمی یا AFM یکی از انواع میکروسکوپ های خانواده میکروسکوپ های روبشی می باشد که توانایی تصویر برداری از سطح گوناگون را دارد. این میکروسکوپ توانایی تصویر برداری از سطوح غیررسانا را نیز دارد و در دو حالت تماسی و غیر تماسی تصویر برداری را انجام می دهد. اساس ایجاد تصویر در میکروسکوپ AFM، نیروی مابین سوزن میکروسکوپ و سطح نمونه می باشد. سطح ماده با یک سوزن با طول تقریبی ۲ میکرومتر و قطر حدود ۱۰۰ آنگستروم روبش می شود. سوزن میکروسکوپ در بخش انتهایی یک تیرک یا cantilever به طول حدودی ۱۰۰ تا ۲۰۰ میکرو متر قرار گرفته است که عموما از موادی ساخته شده است که قابلیت ارتجاع بالایی دارد. تیرک به یک پیزوالکتریک متصل می باشد. هنگامی که سوزن روی سطح ماده حرکت می کند به دلیل پستی بلندی های سطح ماده، نیرویی از سمت ماده به سوزن اعمال می شود که این امر باعث خمش و یا انحراف تیرک می گردد. این انحرافات رابطه مستقیم با نیروی وارد شده به سوزن دارد. آشکارساز AFM با محاسبه این انحرافات در حین روبش سطح ماده، به دستگاه این امکان را می دهد تا تصویر پستی بلندی های سطحی (توپوگرافی سطحی) را ایجاد کند.

نکات مهم

قبل از ارسال نمونه ها نکات زیر را مد نظر قرار دهید:
۱- از آنجایی که حالت انجام آزمایش تماسی است، نمونه های درخواستی مناسب تر تا سخت باشند.
۲- اندازه نمونه ها باید در حدی باشد که داخل دستگاه قرار گیرد و از ۲ سانتی متر در ۲ سانتی متر بزرگتر نباشد.
۳- سطح نمونه ها باید صاف باشد.
۴- نمونه های پودی را ابتدا در حلالی دیسپرس کرده و سپس محلول را روی لام قرار داده و ارسال بفرمایید.
۵- حداکثر زبری سطح باید ۵ میکرون باشد. دقت تصویربرداری ۰/۱ نانومتر است.
۶- متقاضیان در صورتی که ابعاد خاصی را مد نظر داشته باشند حتما باید ذکر کنند. در غیر این صورت با توجه به جنس نمونه تصویربرداری با بهترین ابعاد بنا به تشخیص اپراتور انجام می گیرد.
۷- به منظور تعیین مدول الاستیکی ابتدا با مهامکس تماس بگیرید. در حال حاضر شرایط انجام تعیین مدول میسر نمی باشد.