طیف سنج پراش اشعه ایکس X-RAY DIFFRACTION SPECTROMETER

مشخصات فنی

  • مجهز به استفاده از تیوب آند مس با مینیمم ۷۰% شدت
  • عدم توانایی تشخیص مواد آمورف
  • واحد اندازه گیری: شدت Count / Sec
  • دقت اندازه گیری: ۰٫۰۰۵
  • تولید کننده ولتاٰژ بالا با فرکانس متوسط: ۳۵۰۰W
  • عدم قابلیت تصویربرداری / نقشه برداری
  • تغییر خودکار نمونه
  • دوربین خاص
  • اعمال شرایط محیط برای تمامی نمونه ها

توانایی ها

  • اندازه گیری فواصل بین لایه ها یا سریهای اتمی
  • تعیین موقعیت تک بلور یا دانه و ترتیب اتمها
  • تعیین مشخصات ساختاری شبکه شامل: پارامتر شبکه، اندازه و شکل دانه، کرنش، ترکیب فاز و تنش داخلی مناطق کریستالی کوچک
  • تعیین نسبت بلور به مواد بی شکل در مواد توده و نمونه های فیلم نازک
  • آنالیزغیرمخرب
  • دارای مونوکروماتور شناسایی تمام فازها
  • اندازه گیری کمی محتوای فاز و جهت گیری بافت
  • بدون نیاز به آماده سازی
  • تعیین اندازه دانه های نانومتری( درشرایط خاص) با استفاده از رابطه ی شرر
  • اندازه گیری ضخامت فیلمهای نازک و چندلایه

نکات مهم

آنالیز XRD از ۱۰ درجه تا ۸۰ درجه (Wide Angle) و گام دستگاه ۰/۰۲ درجه در هر ثانیه است. در صورت نیاز به انجام آنالیز در حالت زاویه کوچک (Low angle) گزینه فوق را در بخش خدمات و تحلیل انتخاب کنید. در این صورت آنالیز از ۰/۷ درجه تا ۱۰ درجه صورت می پذیرد.
در نظر گرفتن نکات زیر برای انجام آنالیز ضروری است:
۱- نمونه پودری باید دارای حداقل وزن ۰/۱ گرم و به صورت کاملا همگن باشد.
۲- نمونه های تودهای باید دارای ابعاد تقریبی ۱cm × ۱cm و کاملاً مسطح باشند؛ در غیر این صورت هزینه تعویض stage از متقاضی محترم اخذ می گردد.
۳- در صورتی که نمونه به صورت قطعه یا لایه نازک است، حتماً سطح پشت نمونه را با یک علامت ضربدر مشخص نمائید.
۴-آنالیز نمونه های مایع با خشک نمودن نمونه بر روی یک زیرلایه صورت می پذیرد که هزینه آماده سازی به تعرفه ی خدمات افزوده می گردد. همچنین باید حداقل ۱۰ سی سی از مایع ارسال گردد.